元素分析仪_正业科技元素分析仪_材料元素分析仪

菲希尔X射线荧光测厚仪XDLM产品

菲希尔X射线荧光测厚仪XDLM产品比XDL适用面更广，金属元素分析仪，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM，范围0-80mm）

我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，菲希尔元素分析仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。

孔铜测厚仪/PCB孔铜测厚仪/电镀镍层测厚仪

PHASCOPE PMP10用于印刷线路板上的校准需要一块铜基准板以及校准板。数据能够在选配的打印机上输出。

金属镀层在铁，非铁金属或非导电部件上的厚度测量

为了达到这些应用需要以下的测量探头：

配合测量探头ESD20Zn测量锌，材料元素分析仪，铜，元素分析仪，铝等镀层在钢或铁上的厚度。尤其适合于在粗糙的表面测量。采用相位感度涡流方法允许非接触式的测量，例如对于引线的测量。

配合测量探头ESD2.4测量锌镀层在较小的钢部件上。由于它较小的测量面积以及相位感度涡流方法带来的优点，使得对于不同几何尺寸的部件不需要特别的校准。

配合测量探头ESD20Ni测量钢或铁部件上的电镀镍层。可以根据镍层的厚度范围选择两种不同的测量频率（60 kHz或者 240 kHz）