涂层测厚仪|测厚仪|正业科技菲希尔测厚仪 查看

菲希尔元素分析仪测厚仪XDLM系列

菲希尔元素分析仪测厚仪产品特点：

快速无损的镀层厚度测量（单层或多镀层）

分析固态，孔铜测厚仪，粉末或液态样品

有害特痕量分析

高精度和准确度

十分广泛的应用

准确测量基材是磁性和导电的材料

样品制备非常简单

测试方法安全，测厚仪，没有使用危害环境的化学制品

无耗品，面铜测厚仪，物**所值

菲希尔公司的主要产品有：X射线镀层测厚仪及材料分析仪、RoHS检测仪、电磁感应涂镀层测厚仪、电涡流涂镀层测厚仪、库伦测厚仪(多层镍电位差)、孔隙率测试仪、微纳米硬度测试仪、导电率测试仪、铁素体含量测试仪等，广泛应用于微电子(印制电路、半导体芯片、框架和连接器等)生产、贵金属(黄金、珠宝、宝石等)分析、汽车船舶、电镀加工、油漆防腐、航天航空、太阳能光伏、石油化工、大专院校和科研机构等领域。

菲希尔X射线荧光测厚仪SDV-U

菲希尔X射线荧光测厚仪SDV-U**微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接**整的样品。