膜厚测量仪|正业科技仪器生产商|膜厚测试仪

X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪

X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品，HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供较先进的产品和较完善的解决方案。

产品用途：

由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛;

在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。

在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。

在质量管控和来料检验中，漆膜厚测试仪，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，线路板膜厚测试仪，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，PCB膜厚测试仪，则需要测量大批量部件的厚度。

对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。

在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段

对于以上测量应用，膜厚测试仪，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能**胜任。

X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪也可测量金属元素的等。

我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。

孔铜测厚仪/PCB孔铜测厚仪/电镀镍层测厚仪

PHASCOPE PMP10用于印刷线路板上的校准需要一块铜基准板以及校准板。数据能够在选配的打印机上输出。

金属镀层在铁，非铁金属或非导电部件上的厚度测量

为了达到这些应用需要以下的测量探头：

配合测量探头ESD20Zn测量锌，铜，铝等镀层在钢或铁上的厚度。尤其适合于在粗糙的表面测量。采用相位感度涡流方法允许非接触式的测量，例如对于引线的测量。

配合测量探头ESD2.4测量锌镀层在较小的钢部件上。由于它较小的测量面积以及相位感度涡流方法带来的优点，使得对于不同几何尺寸的部件不需要特别的校准。

配合测量探头ESD20Ni测量钢或铁部件上的电镀镍层。可以根据镍层的厚度范围选择两种不同的测量频率（60 kHz或者 240 kHz）