中国菲希尔测厚仪总代理|正业科技孔铜面铜测厚仪|菲希尔

面铜测厚仪

菲希尔手持面铜测厚仪属于一款无损，便用携带的测厚仪，它无损、快速、精确并且不会受到背面铜层的影响。特别适用于测量多层或是较薄的板材上的铜厚，因为该测量法保证了两面相对的铜层不会相互影响测量结果。

面铜测厚仪技术参数：

量程：0-120um

精度：

> 5 - 50 μm: ± 0.5 μm                      

50 - 80 μm: ≤ 1 % of value              

80 μm: ≤ 2 % of value

测试面积：10*15mm  

Ｘ射线荧光镀层测厚及材料分析仪XDLM-PCB200

Ｘ射线荧光镀层测厚用途：

该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析，菲希尔台式测厚仪总代理，可用来定量和定性分析样品的元素组成，进口菲希尔r测厚仪，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，菲希尔，较多可同时测定24种元素，FISCHER测厚仪，广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的功能性镀层及电镀槽液中的成分浓度分析。

Ｘ射线荧光镀层测厚特点：

1、无论是镀层厚度测量，还是镀液分析，复杂的多镀层应用，一个软件程序就可以完成所有测量应用

2、X射线管有带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管多种选择

3、X射线探测器PC（比例接收器）、PIN（硅PIN接收器）、SDD（硅漂移接收器）

4、可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地应用不同测量。