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菲希尔X射线荧光测厚仪SDV-U

菲希尔X射线荧光测厚仪SDV-U**微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，湛江测厚仪，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，金属测厚仪，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接**整的样品。

 MMS PC2涂层测厚仪/孔面铜测厚仪

菲希尔孔面铜测厚仪可同时连接4条孔铜探头及4条面铜探头进行同时检测孔铜，面铜的厚度。

德国菲希尔孔面铜测厚仪是一台台式设备，可用于检测镀层、涂层的厚度及材料金属元素的测试，具有彩色触摸屏、可进行个性化配置并带有各种设备接口。